SN/T 2003. 7-2011.Screening method of lead , mercury，cadmium , chromium and bromine in electrical and electronic equipments-Part 7:Laser induced breakdown spectroscopy.
1范围
SN/T 2003. 7规定了电子电气产品中铅、汞、镉，铬.溴的激光诱导击穿光谱定性筛选方法。
SN/T 2003. 7适用于电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的定性筛选。
2方法提要
样品经制备后在各元素的定性筛选条件下用激光诱导击穿光谱仪进行测定,对收集到的图谱进行分析,根据元素特征谱峰确定待测元素是否存在。
3术语
下列术语和定义适用于本文件。
3.1激光诱导击穿光谱法Laser-induced breakdown spectrometry;LIBs
使用瞬间高能激光轰击物品,使被轰击到的物品产生等离子并发射出连续光谱和该物品的特征光谱，根据所激发的特征光谱进行物质的成分分析的方法。
4仪器
4.1 激光诱导击穿光谱仪，光谱仪的工作条件及参数见附录A.
4.2切割机。
4.3冷冻研磨 机。
4.4研磨机。
4.5压片机,压力不小于 20t。
4.6 熔样机。
5试剂和材 料
高纯氦气:纯度大于99. 99%。
SN/T 2003. 7-2011 电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第7部分:激光诱导定性筛选法
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