SN/T 2003.4-2006.Determination of lead, mercury , chromium , cadmium and bromine in electrical and electronic equipment-Part 4:Qualitative screening by energy dispersive X-ray fluorescence spectrometric method.
1范围
SN/T 2003.4规定了用能量色散X射线荧光光谱法定性筛选电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定方法。
SN/T 2003.4适用于电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的定性筛选。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过SN/T2003的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T 16597冶金产品分析方法 X 射线荧光光谱法通则
3方法提要
由x光管发射的原级x射线人射到样品上,样品元素受激发射出荧光X射线,并与原级X射线的散射线一起进入探测器进行光电转换,探测器的输出脉冲经放大器幅度放大和脉冲高度分析器的幅度甄别后,输出结果。
4试剂和材料
4.1 氧化铬、氧化镉、氧化铅、氧化汞和溴化钾:分析纯。
4.2氦气:纯度>99. 9%。
5仪器
5.1能量色散型 x射线荧光光谱仪:符合GB/T 16597的规定,其中检测限应满足表1规定的要求。
5.2 切割机。
5.3液氮冷冻粉碎机。
5.4研磨机。
5.5 压片机:压力不小于20 t。
https://www.gxjzx.com/zb_users/upload/2023/11/20231128064802170112528252507.rar