SN/T 3348-2012.Determination of silicon , manganese , phosphorus , chromium , nickel and tungsten in chrome-nickel-tungsten steel-Wave-length dispersive X-ray fluorescence spectrometry.
1范围
SN/T 3348规定了铬镍钨钢中硅、锰磷、铬、镍、钨含量的波长色散X射线荧光光谱测定方法。
SN/T 3348适用于铬镍钨钢中硅、锰、磷、铬、镍、钨含量的测定,测定范围见表1.
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 1031表面粗糙度参数及其数值
GB/T16597冶金产品分析方法X射线荧光光谱法通则
3方法提要
将试样的分析面加工成光洁平面,在选定的仪器测量条件下,测量样品中待测元素特征谱线的X射线荧光强度,根据X射线荧光强度与待测元素含量之间的定量关系,计算出待测元素的含量。
4试剂与材料
4.1探测器气体(P10) :90%氩气+10%甲烷,用于流气式正比计数器。
4.2标准样品:光谱用标准试块。各元素应至少有6块标准样品,其含量应有- -定间隔,并覆盖待测元素的测定范围。
SN/T 3348-2012 铬镍钨钢中硅、锰、磷、铬、镍、钨含量的测定波长色散X射线荧光光谱法
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