YD/T 2342-2011.Reliability test method for optoelectronic devices used in telecommunications.
1范围
YD/T 2342规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的一-般要求和详细要求，包括:试验目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。
YD/T 2342适用于通信用光电子器件，包括但不限于激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块，简称“光电子器件”。其他领域的光电子器件也可参照使用。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注8期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 19001-2008质量管理体系一要求 (ISO 9001-2008，IDT)
GB/T 21194-2007通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求
3术语和定义
GB/T 21194- 2007
界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
光电子器件Optoelectronic Device
具有光电特性的元件。
3.2
试样Specimen
用作可靠性试验的光电子器件样品。
3.3
失效Failure
光电子器件达不到规定的光电参数和/或物理参数时，称为失效。
3.4
失效判据Failure Criterion
判定光电子器件失效的依据。
YD/T 2342-2011 通信用光电子器件可靠性试验方法
标准下载地址：