JJG 28—2019.
1范围
JJG 28适用于平晶(包括平面平品、平行平品和长平晶)的首次检定、后续检定和使用中检查。
2 引用文件
JJG 28引用下列文件:
GB/T 903——2019无色光学玻璃JB/ T 7401—1994平面平品.JB/ T 7402—1994平行平品
ISO 14999-4:2015 (E)光学和光子学光学元件和光学系统的干涉仪测量-第四章:在ISO10110中所明确规定的公差说明和评价(Optics and photonics Interferometricmeasurement of optical elements and optical systems - Part 4: Interpretation andevaluation of tolerances specified in Iso 1011o) 。
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3概述
平晶是以光波干涉法测量亚面度、直线度、研合性以及平行度的计量器具,包括平面平品、平行平品和长平品。平面平晶按工作面数可分为单工作面平品和双工作面平品,其外形示意见图1,按用途又可分为标准平品和工作平品两大类,标准平品分为一、二等,工作平品分为一、二级。
6.3检定方法
6.3.1 外观及表面质量
以黑色屏幕为背景,在(8~15)W日光灯照射下,借助4~6倍放大镜,目力观察。
6.3.2外形尺寸
平行平晶中心长度尺寸H用5等量块在光学计土进行比较测量,也可以用测长仪直接测量。其它外形尺寸用游标卡尺进行测量
6.3.3长平品十字刻线位置
在万能工具显微镜上测量。
6.3.4两端面夹角
平面平品两端面夹角用百分表和专用台架或表式卡规测量。测量时,在任意直径方向两端的读数差(端面间的厚度)的最大值作为测量结果。
长平品两端面的夹角用分度值为0.02mm 的游标卡尺测量。
6.3.5工作面与圆柱母线的垂直度
用分度值不大于2’的角度规测量。
6.3.6非工作面的平面度
平面平品采用不小于被检平面平品直径的二级平品等厚干涉法测量,长平品用D100mm二级平晶等厚干涉法测量。
6.3.7平行度
用光学计测量时,在四个均匀的直径方向距边缘1mm 的八个点上进行测量,每点测量两次取平均值做为该点测得值,在八个测得值中,取其最大差值作为平行度。
也可用测量不确定度U≤0.2um (k=3或 p=0.99)的其它方法进行测量。
6.3.8工作面的平面度
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