GA/T 1065-2013.Calibration specifications for test block of Micro-dose X-ray security inspection systems.
1范围
GA/T 1065规定了微剂量X射线安全检查设备测试体的术语和定义.计量性能要求.通用技术要求、材料性能确认.校准条件.校准项目和校准方法.校准结果表达及复校时间间隔。
GA/T 1065适用于微剂量X射线安全检查设备测试体的首次校准、后续校准及使用中检验。
2规范性引用文件.
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 15208. 1- 2005微剂量X射线安全检查设备第1部分:通用技术要求.
GB/T 15208. 2-2006微剂量 X射线安全检查设备第2部分:测试体
JJF 1059测量不确定度评定与表示
3术语和定义
GB/T 15208. 1- 2005和GB/T 15208.2- -2006 中界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
测试体test block
用于测试和评价X射线图像性能指标的测试物。测试体包括测试体A和测试体B.
测试体内包含测试卡。测试卡安装在测试体内的固定板上,并用上.下防护衬板封装成一长方形的测试体,测试体的防护衬板采用发泡聚乙烯板。
3.2测试卡test object
用于测试和评价X射线图像某项指标的测试物。测试体A包括4种测试卡:线分辨力测试卡(测试卡1).穿透分辨力测试卡(测试卡2) .空间分辨力测试卡(测试卡3)和穿透力测试卡(测试卡4)。测试体B包括6种测试卡:薄有机物分辨测试卡(测试卡5)、有机物分辨测试卡(测试卡6)、灰度分辨测试卡(测试卡7).无机物分辨测试卡(测试卡8).材料分辨测试卡(测试卡9)和有效材料分辨测试卡(测试卡10)。
GA/T 1065-2013 微剂量X射线安全检查设备测试体校准规范
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