JJG 427—2004.
1范围
JJG 427适用于测量上限至100mm、分度值为0.001mm的带表千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。
引用文献
JJG 427引用下列文献:
JF 1001—1998通用计量术语及定义JF 1059—1999测量不确定度评定与表示GB/T 1216—1985外径千分尺
JJF 1094—2002测量仪器特性评定JG 39—1990机械式比较仪检定规程
使用本规程时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3概述
带表千分尺（见图1）是由机械式比较仪（以下简称比较仪)、尺架和测微头等部分组成的一种千分尺。它主要用于外尺寸的比较测量。
带表千分尺的测量范围一般分为（0~ 25) mm，(25 ~ 50) mm，(50 ~ 75)mm 和(75 ~ 100)mm 四种。比较仪分度值为0.001mm，示值范围一般为±0.03mm和±0.05mm两种。
6.3.3―刻线宽度及宽度差
在工具显微镜上检定。微分筒和固定套管上至少各均匀分布地抽检3条刻线。刻线宽度差以最大值和最小值之差确定。
6.3.4微分筒锥面的端面与固定套管刻线的相对位置
首先将带表千分尺测量下限调整正确，然后使微分筒锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相切，此时读取微分筒的零刻线与固定套管纵刻线的偏移量即为离、压线值。
6.3.5微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离
在工具显微镜上进行检定。也可以用厚度为0.4mm的2级塞尺用比较法进行检定，检定时应在微分筒转动一周内不少于三个位置上进行。
6.3.6带表千分尺两测量面的平面度和平行度
两测量面的平面度用2级平晶以技术光波干涉法进行检定。距边缘0.2mm 处允许有塌边。
两测量面的平行度用平行平晶检定时，依次将四块平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，使两测量面与平行平晶接触后锁紧测微螺杆，读出两测量面上出现的白光干涉条纹数。以四块平晶中出现的干涉条纹最多的一次数值作为带表千分尺两测量面的平行度。
两测量面平行度用量块检定时，依次用尺寸约为上下限的中间尺寸，其间隔为微分筒1/4转的四组量块进行。每组址块以同一部位按图2所示的四个及中间共五个位置放人两测量面间。检定时，首先将量块夹持在测量面中心位置对零位后，锁紧测微螺杆，顺次在比较仪上读取同一尺寸量块在测量面间五个位置上的示值，并求出其差值。取四组读数差中的最大值作为带表千分尺两测量面的平行度。
仲裁检定时，以平行平晶检定方法为准。
6.3.7比较仪
按JJG39——1990《机械式比较仪检定规程》进行。
6.3.8测力及测力变化
JJG 427—2004 带表千分尺检定规程
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