YD/T 1588.2-2006 光缆线路性能测量方法 第2部分:光纤接头损耗

YD/T 1588.2-2006.
1范围
YD/T 1588的YD/T 1588.2规定了光缆链路中光纤接头损耗的测量方法、测量系统、测量程序和结果。
YD/T 1588.2适用二氧化硅系单模光纤和多模光纤光缆链路中固定接头损耗测量。其他光纤的固定接头损耗测量和非固定的接头损耗测量也可参照使用。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过YD/T 1588的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分。然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
YD/T 1588.1-2006光缆线路性能测量方法 第1部分: 链路衰减。
3截断法
3.1测量环境
测量时,仪表所处的环境宜满足下列条件:
环境温度: -5℃ ~ +40℃ ;
环境湿度:不大于85%。
如果测量仪表的使用说明另有规定,还应满足其规定。
3.2概述
截断法是基于光纤接头损耗定义,在不改变注人状况的前提下测量出通过光纤接头前后两横截面的光功率PI( 2 )和P2( h),从而直接得出光纤接头损耗。截断法是测量光纤接头损耗的基准试验方法( RTM )。
用本方法测量的光纤接头损耗不依赖于测量方向,所以只需单方向测量。
本方法是破坏性测量方法,在测量过程中需将接头剪除,所以除非为了验证光纤接头损耗,通常在工程中不使用。
由截断法演变而来的4P法(即四功率法)在工程上具有使用意义。
3.3截断法测量系统
测量系统框图如图1所示。测量装置的详细要求应符合YD/T 1588.1-2006附录A的规定。

YD/T 1588.2-2006 光缆线路性能测量方法 第2部分:光纤接头损耗

YD/T 1588.2-2006 光缆线路性能测量方法 第2部分:光纤接头损耗

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