SJ/T 11403-2009.Laser diode modules used for te I ecommunicat ion - Reliability assessment.
1范围
SJ/T 11403适用于光通信用激光二极管模块(以下简称激光二极管模块)的可靠性评定。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
GB/T 2423.1- -2001 电工电子产品环境试验第2部分，试验方法
GB/T 2423. 2-2001)电下电了产品环境试验第2部分试验方法一试验B;高温
GB/T 2423.5- -1995年电工电子产品环境试验, 第2部分:试验方法试验瓯和导则:冲击《IEC60068-2-27:1987 DT)
GB/T 2423.10-1995电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法试验Fc和导则:振动(正弦)(IEC 60068 -2-6:1982, IDT)
GB/T 2423. 22-2002 电工电子产品环境试验， 第2部分:试验方法试验N:温度变化IEC60068-2-14: 1984, IDT)
GB/T 2423. 23年1995. 电工电子产品环境试验干试验Q:密封
GB/T 15651- -19957 半导体器件i; 分立器件和集成电路第5部分:光电子器件
GB/T 17573- -1998 半导体器件' 分立 器件和集成电路第1部分:总则(IEC60747-: 1983, TDT)
GB/T 19001- -2000质量管理体系,要求(ISO 9001;2000，IDT)
GJB 128A- -1997 半导体分立器件试验方法
GJB 548A- -1996 微电子器件试验方法和程序
SJ/T 11403-2009 通信用激光二极管模块可靠性评定方法
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