GB/T 38094-2019/ISO 8289 :2000 搪瓷制品和瓷釉缺陷检测及定位的低电压试验

GB/T 38094-2019/ISO 8289 :2000.Vitreous and porcelain enamels-Low voltage test for detecting and locating defects.
GB/T 38094规定了两种低电压试验,适用于搪瓷瓷层和金属基板缺陷的检测。
方法A是一种基于电学或电声学的快速测试方法,可基本确定缺陷位置,适用于平面试样的检测;
方法B是一种基于颜色效应的光学测试方法,可精确确定缺陷位置,适用于较复杂形状试样的检测。
注1:选择正确的测试方法对于区分由方法B测得的电导增强的区域与由两种方法测得的延伸至金属基板的针孔是重要的。
注2:低电压试验是一种搪瓷缺陷检测的非破坏性方法,它完全不同于高电压试验方法.两种试验方法的测试结果不具有可比性。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
IEC 60086-2原电池第 2部分:规格说明(Primary batteries- Part 2:Specification sheets)
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1缺陷defect来自金属基板的气孔.开裂或爆瓷。
注:搪瓷制品在生产过程中产生某些缺陷(如烧具痕等)是难以避免的。
4原理
方法A使用电学或电声学的方法检测缺陷,方法B使用基于颜色效应的光学方法检测缺陷。通过使搪瓷制品的缺陷与导电溶液相接触,在低电压条件下进行试验。
5试验溶液
将3.0 g士0.1 g亚硝酸钠溶解在100 mL的自来水中,再加人2滴液体洗涤剂。
如果想用目测观察缺陷,即使用基于颜色效应的方法B,需在溶液中添加4mL酚酞乙醇溶液(要求酚酞的质量分数为0.5%)。
警示一使用亚硝酸钠和酚酞溶液时应特别小心。

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