SJ/T 11704-2018 微电子封装的数字信号传输特性测试方法

SJ/T 11704-2018.Digital signal transmission test method for microelectronic packages.
1范围
SJ/T 11704规定了高频数字微电子封装中传输线的特性阻抗、传输延迟时间、负载电容、负载电感、直流串联电阻的测试方法。
SJ/T 11704适用于高频数字微电子封装
2规范性引用文件
下列文件对于水文件的应用是必不可少的。凡是注8期的引用文件伙年日期的版木适用于木文件。凡是不注日期的引用工件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于文母
GJB 548微电了器件试胜力法和程序
3术语和定义及符号
下列术再、定义及符号暂用于本文件。
3.1 术语和定义
3.1.1
特性阻技Gharicteriste impedance
某一段传输线于其电阻和电感对电容的比值所呈现的阻抗。
3.1.2
传输延迟时间trprsmission delay time
具有一定驱动风抗的驱动器产生的脉冲在某-段传输线上产生的运。
3.2符号
R:电阻;
ANDAN
L:电感:
C:电容:
lpu: 传输延迟时间;
Zo:特性阻抗;
I: 引线长度。
4一般要求
4.1测试环境
除另有规定外，测试环境(温度、气压等)应符合GJB 548的相关规定。

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