SJ/T 11706-2018.Semiconductor integrated cireuits test methodof field programmable gate array.
1范围
SJ/T 11706规定了SRAM型现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,以下简称FPGA)的电
参数测试方法。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的心也提必不可少的。凡是注日期的引值文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文化，其项新版木(包括所有的修改单)乐用我个文件
GB/T 17574-1928年界体器件集成电路 第2部分: 数字电路
3术语和定
下列术吾和定义适用于文件。
3.1
输入输出单元input otput block
输入辅出四元，简称IQB.是FPGA与外势的接国部分，用于完成不同电物出下对输入输出信号的驱动与四配享。
3.2
可配置连辑界Cconfgrable logie block
可配置逻與模大简称CLB，是FPGA内的基本逻辑单元，用于实现用户通义的基本逻辑功能。
3.3
配置文件configurationfile
根据FPGA开发要求编制规定并约束FPGA功能的数据文作，也回液文件。配置文件一般包括配置数据(用来定义可实在辑示状态的比特位)和配置命个用来控制设备处理配置数据指令的方式)。
3.4
配置过程configuration process
使用一种特定的配置模式将特定的比特流(配置文件)加载到FPGA的过程。特定的配置模式与所配置的FPGA有关。
3.5
外部开关参数external switching parameter
能够从器件引出端直接测量得到的开关参数，例如引脚到引脚的延迟时间。
3.6
内部开关参数internal switching parameter
不能直接从FPGA引出端直接测试的开关参数，例如引出端到内部节点的延迟时间，或者两个内部节点之间的延迟时间。
SJ/T 11706-2018 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法
标准下载地址：