SJ/T 10813-1996.Detail specification for electronic component Semiconductor integrated circuit- CT1020 TTL Dual 4 inp吡t NAND gate.
SJ/T 10813规定了半导体集成电路CT 1020型TTL双4输人与非门鉴定和质量评定的全部内容。
SJ/T 10813是按照GB 5965- -86 《半导体集成电路双极型门电路空白详细规范》制订的,并符合GB 4589-84 《半导体集成电路总规范》的要求。
中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。
5电工作条件和电特性
电特性的检验要求见本规范第8章.
5.1电工作条件
若无其他规定，适用于全工作温度范圈。
若受器件尺寸限制时，允许将“检验批识别代码”.“质量评定类别”标在器件背面。
7订货资料
若无其他规定,订购器件至少需要下列资料:
2.准确的型号;
b.详细规范的国家编号;
c.质量评定类别。
8试验条 件和检验要求
抽样要求:根据采用的质量评定类别，按GB 4589- -84 第3.6.2款表6和表7的规定。
A组检验的抽样要求
10.3动态特性的测量
10.3.1基本测试线路
按GB 3439-82图35、36。
10.3.2负载线路
10.4 电耐久性试验线路
电耐久性试验线路如图4所示。
SJ/T 10813-1996 电子元器件详细规范半导体集成电路CT1020型TTL双4输入与非门
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